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AI6000介質(zhì)損耗測試儀

描述:AI6000介質(zhì)損耗測試儀用于現(xiàn)場抗干擾介損測量,或試驗室精密介損測量。儀器為一體化結(jié)構(gòu),內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。測量結(jié)果由大屏幕液晶顯示,自帶微型打印機可打印輸出。

更新時間:2023-11-10
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
詳情介紹

AI6000介質(zhì)損耗測試儀

AI-6000介質(zhì)損耗測試儀用于現(xiàn)場抗干擾介損測量,或試驗室精密介損測量。儀器為一體化結(jié)構(gòu),內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。測量結(jié)果由大屏幕液晶顯示,自帶微型打印機可打印輸出。

本儀器采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù),全自動智能化測

量,在強干擾下情況下可以感應出周圍環(huán)境的干擾頻率,儀器放出反向信號以抵消干擾,使得本儀器測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。  ☆ 另外,本機可以對的互感器產(chǎn)品CVT(電容式電壓互感器)進行測量。 儀器面板上有各種試驗方法的接線圖,使得試驗變得更加方便。

 1.1  主要技術(shù)指標  

準確度:   CX:  ±(讀數(shù)×1%+1pF)  tgδ: ±(讀數(shù)×1%+0.00040)  

抗干擾指標: 在200%干擾(即I干擾 / I試品≤2)下仍能達到上述準確度

電容量范圍: 內(nèi)置高壓3pF--60000pF/10kV 60pF--1μF/0.5kV  外加高壓3pF--0.3μF/10kV 分辨率:z·ui高0.001pF,4位有效數(shù)字  

tgδ范圍: 不限,分辨率0.001%,電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍:10μA--1A  

內(nèi)施高壓: 設(shè)定范圍:0.5--10kV    z·ui大輸出電流:200mA       升降壓方式:連續(xù)平滑調(diào)節(jié) 精度:±(1.5%×讀數(shù)+10V)   分辨率:1V  

試驗頻率: 45、50、55、60、65Hz單頻      45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻 精度:±0.01Hz  

CVT測量低壓輸出:輸出電壓3--50V 輸出電流3--30A

測量時間: 約30秒(與測量方式有關(guān))  

輸入電源: 180V--270VAC,50Hz/60Hz±1%(市電或發(fā)電機供電)

計算機接口: 標準RS232接口

打印機:   EPSON  M150微型打印機

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